申请(专利)号： CN201810326884.8

申请日： 2018.04.12

申请公布号： CN108426533A

公开公告日： 2018.08.21

主分类号： G01B11/08(2006.01)I

分类号： G01B11/08(2006.01)I;

摘要：本发明提供的一种用于检测微纳光纤直径的传感器，包括宽带光源、第一连接光纤、D型光纤、第二连接光纤和光谱分析仪；所述宽带光源、所述第一连接光纤、所述D型光纤、所述第二连接光纤和所述光谱分析仪依次连接，所述微纳光纤与所述D型光纤接触；所述D型光纤是通过将光纤沿轴向切除包层形成截面为D型抛磨面的光纤结构，所述微纳光纤与所述D型抛磨面的平坦区域接触，所述微纳光纤通过将单模或多模光纤拉锥制备得到。本发明提供的传感器，采用D型光纤作为外部耦合器件来激发WGM，D型结构比较稳定，更容易引出倏逝波，将光耦合到待测微纳光纤中，形成WGM共振，当微纳光纤直径变化时，引起WGM共振的FSR变化，从而实现对微纳光纤直径的检测。

申请权利人： 南昌航空大学;

发明设计人： 刘彬; 梁红勤; 刘娟; 万生鹏; 何兴道; 李国琴;