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一种工频下高介电常数屏蔽膜及其制备方法
发布时间:2019-02-13

申请(专利)号: CN201811084883.3

申请日: 2018.09.18

申请公布号: CN109320944A

公开公告日: 2019.02.12 

主分类号: C08L75/04(2006.01)I

分类号: C08L75/04(2006.01)I; C08K7/00(2006.01)I; C08K5/43(2006.01)I; C08K9/10(2006.01)I; C08K7/18(2006.01)I; C08J5/18(2006.01)I; H05K9/00(2006.01)I; 

摘要:本发明提供了一种工频下高介电常数屏蔽膜及其制备方法,该屏蔽膜由热固性高分子树脂与花边形状软磁粉复合而成,并含有硫氰酸乙酯,其中硫氰酸乙酯所占的质量百分比为0.1%~10%。屏蔽膜通过将热固性高分子树脂溶解,并将软磁粉加入到溶解的高分子树脂中,搅拌均匀形成浆料,在体系中加入硫氰酸乙酯,并将混合浆料体系搅拌均匀后在离型基质上刮涂成膜、烘干固化制得。所制得的屏蔽膜在工频下具有显著较高的介电常数和正切损耗,同时直流电阻达到105次方欧姆以上,能够解决现有技术中容易产生电势差以及对电磁场的反射的问题。

申请权利人:国网江西省电力有限公司电力科学研究院; 国家电网有限公司; 南京先磁新材料科技有限公司

发明设计人: 刘平; 王鹏; 王悦; 代小敏; 伍发元; 徐锐;