申请(专利)号：CN201811288808.9

申请日：2018.10.31

申请公布号：CN109507220A

公开公告日：2019.03.22

主分类号：G01N23/223(2006.01)I

分类号：G01N23/223(2006.01)I;

摘要：本发明提供了一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置，涉及X射线探测分析技术领域。其包括：样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头；所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构，所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上；所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座，所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合滑轮件，所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。能够改变异形样品与X射线发射器的距离和角度，实现对异形样品多个维度的检测。

申请权利人：东华理工大学;

发明设计人：王清亚; 李福生; 汤彬; 张丽娇; 张焱; 张雄杰;